描述：泰克Keithley2606B高密度仪器源测量单元 高密度系统SourceMeter （SMU）仪器在1U高的机箱中提供四条20瓦SMU通道。由于制造商需要优化占地空间并减少测试时间和成本，2606B 将密度提高 3 倍、提高吞吐量并尽量减少增加测试设备机架的需求。此SMU为测试激光二极管、LED、2和3端子半导体等生产的理想解决方案。

标题：泰克Keithley2606B高密度仪器源测量单元

产品概述

泰克Keithley2606B高密度仪器源测量单元高密度系统SourceMeter (SMU)仪器在1U高的机箱中提供四条20瓦SMU通道。由于制造商需要优化占地空间并减少测试时间和成本，2606B 将密度提高 3 倍、提高吞吐量并尽量减少增加测试设备机架的需求。此SMU为测试激光二极管、LED、2和3端子半导体等生产的理想解决方案。

泰克Keithley2606B高密度仪器源测量单元

1.将密度提高 3 倍

当生产测试机架空间增加且您需要尽量减少增加新测试机架的需求时，与传统 2U 外形的 SMU 相比，2606B 可以在同一机架区域中增加更多通道容量。

• 方便堆叠和安放

• 无需增加 1U 隔热间距

• 相同机架空间内的通道数提高 3 倍

• 通道数相同但占用空间减少 3 倍

2.兼具两台 2602B 的功能

在 1 U 外形中体验相当于业内*的 Keithley 2602B 系统 SourceMeter 的优的测量完整性、同步、速度和精度。2606B 也与 2602B 使用同样的模拟、数字 I/O 和 TSP Link 连接器，实现无缝迁移。

• 0.015% 基本测量精度

• 6 1/2 位分辨率

• 100nA 低电流范围与 2pA 灵敏度

• 8 针 Phoenix 模拟和 25 针数字 I/O 连接器

3.系统性能提供大的生产吞吐量

测试脚本处理器 (TSP®) 技术可在 SMU 仪器内嵌入和执行完整测试程序，提供业界优的性能。TSP-Link® 技术支持扩展多达 64 条通道，支持高速、SMU-per-pin 并行测试（而不使用主机）。<500 ns 时所有通道同时独立受控。

• 消除与 PC 之间耗时的总线通信

• 兼容仪器 2602B SourceMeter 的 TSP 脚本代码

• 连接多达 32 个 TSP-Link 节点或 64 条独立 SMU 通道

• 随着测试要求变化轻松重新配置

产品型号：