描述：泰克SourceMeter光仪器（源测量单元）通过 Keithley 仪器，可以轻松构建 LIV（光功率-电流-电压）系统，从而经济高效地测试激光二极管模块。

标题：泰克SourceMeter光仪器（源测量单元）

产品概述

泰克SourceMeter光仪器（源测量单元）通过 Keithley 仪器，可以轻松构建 LIV（光功率-电流-电压）系统，从而经济高效地测试激光二极管模块。

• 光纤对准光电二极管仪表 2502 ：高速模拟输出使得可在光纤对准工作台执行 LIV 测试。

• 带可选积分球 2520/KIT1 的脉冲激光二极管测试系统 ：同步测试系统，为脉冲和连续 LIV 测试提供纯源化和测量功能。

• 注：此产品无法发货到欧盟国家。 详细信息 。

• TEC SourceMeter SMU、2510 和 2510-AT ：确保通过控制其热电冷却器，为激光二极管模块提供严格的温度控制。

泰克SourceMeter光仪器（源测量单元）主要特点

• 主动温度控制

• 50W TEC控制器

• 全数字P-I-D控制

• 适用于热控制环路的自动调谐功能（2510-AT）

• 宽温度设定值范围（-50°℃至+225℃）以及高设定值分辨率（+0.001°C）和稳定性(士0.005°C)

• 兼容于多种温度传感器输入一热敏电阻、RTD和IC传感器

• 交流欧姆测量功能

• 适用于热反馈元件的四线开路/短路引线检测

优势：

• 防止温度变化可能引起激光二极管主输出波长发生变化，导致出现信号重叠和串扰问题。

• 比其他低功耗解决方案提供更高的测试速度和更宽的温度设定值范围。

• 提供更高的温度稳定性，并可通过简单的固件变化轻松升级。

• 无需反复试验即可确定P、|和D系数的优组合。

• 能够满足大部分冷却光学元器件和子装配件生产测试的测试要求。

• 适合常用于各类激光二极管模块的温度传感器类型。

• 验证TEC器件的完整性。

• 消除引线电阻测量值误差，减少假故障或设备损坏的可能性。