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标题:泰克KeithleySMU2650系列高功率源测量单元
产品概述
泰克KeithleySMU2650系列高功率源测量单元系列大功率 SourceMeter SMU 仪器专为高电压/电流电子产品和功率半导体元件(例如二极管、FET 和 IGBT、高亮度 LED、直流至直流转换器、电池、太阳能电池及其他高功率材料、组件、模块和部件)的检定和测试而设计。 它们提供大的功率、精度、速度、灵活性和易用性,可提高研发、生产测试和可靠性环境中的效率。 有两种仪器可用,提供高达 3000V 或高达 2000W 的脉冲电流功率。
泰克KeithleySMU2650系列高功率源测量单元主要特点:
高度灵活的四象限电压和电流源/负载,与高精度电压表和电流表相耦合源或阱(2651A)脉冲功率高达2000W(±40V、±50A),或直流电源高达
200W(+10V@+20A、±20V@±10A、±40V@+5A);轻松连接两个器件(串联或并联)创建高达+100A或±80V的解决方案
源或阱(2657A)直流或脉冲功率高达180W(±3000V@20mA、±1500V@120mA)
内置基于网络浏览器的软件
有数字化或积分测量模式可供选择
TSP(测试脚本处理)技术
TSP-Link 通道扩展总线
兼容于8010型高功率设备测试夹具和8020型高功率接口面板
免费的测试脚本构建器软件工具
选配的ACS基础半导体元器件检定软件
优势
提供相比同类产品颇具优势的性能,具有6%位分辨率。
支持功率半导体、HBLED、光学设备、太阳能电池、GaN、SiC和其他复合材料与设备的检定/测试。应用范围包括半导体接点温度检定;高速、高精度数字化;电迁移研究;以及高电流、高功率设备测试。
提供功率半导体器件检定和测试所需的高压,包括GaN、SiC及其他复合材料和器件、高达3kV的故障和漏电测试以及亚毫秒瞬态检定。
支持通过任何浏览器、任何计算机、从任何地方进行远程控制。
支持准确检定瞬态和稳态行为,包括快速变化的热效应。
可以与2657A型与2600B系列型号轻松地进行系统集成。
让多台2651A和2657A与所选2600B系列SMU仪器组合成多达32条通道的集成系统。
为封装部件或晶片级高功率设备测试提供安全而方便的连接。
帮助您创建、修改、调试和存储TSP测试脚本。
开发、质量检验或故障分析期间执行封装部件检定时,较大限度地提高工作效率。
产品型号:
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